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优良短期稳定度10MHz恒温晶振研制分析

【摘 要】 恒温晶振是一种频率发生设备,其性能优良,在许多领域多有应用.在晶振研制过程中的一项基准指标就是优良短期稳定度.在我国电子、航天、通信等领域都有着重要的作用,能保持设备系统的性能稳定以及提高状态.在本文的论述中主要是在恒温晶振工作原理的了解基础上,进行多种电路的设计,从而研制分析具有优良短期稳定度的10MHz 恒温晶振.

【关键词】 恒温晶振 控温系统 优良短期稳定度

一、前言

恒温晶振(OCXO) 是由恒温槽控制电路和振荡器电路.一般人们是用热敏电阻“电桥”来构成差动串联放大器以此实现温度控制.具有自动增益控制(AGC)的振荡电路,是目前获得振荡频率高稳定度比较理想的技术方案.目前恒温晶振优良短期稳定度相关标准范围在5×10-13/s ~ 2×10-12/s之内,由于性能优良,故在很多的领域中都有运用.主要体现在:在测速系统中运用能提高数据测试的精准度,运用到通信设备中能降低误码率,以及提高雷达系统中辨别力等.针对在实际运用体现出来的优势, 我们来进行优良短期稳定度10MHz 恒温晶振分析研究.

二、影响恒温晶振优良短期稳定度的因素

19 世纪提出的简单噪声模型,通过实际与运用相对比有很好的效果,被广泛运用于振荡器中对噪声的研究.其中振声器由放大器和正反馈网络组成.由于震荡信号的干扰从而影响振荡器的短期稳定.对此我们做出假设, 在放大器中假设只存在闪变噪声和白噪声,那么输出的单边相位噪声密度用公式来表示:

将公式带入到其中进行振荡器,对有关影响短期稳定度指标的因素进行判断, 从而得出在进行晶体谐振器的时候需要提高的有载品质因数的相关指标;于此同时还需要选用具有低噪声效果的晶体管在研制的过程中.特别是主晶体管的选择;其次是要选择合理的辅电路; 到最后是双层恒温槽的运用,避免因为其他环境因素而造成频率稳定度的变化一些变化.我们知道恒温晶振是震荡电路与温度控制两个主要部分组成,通常是由主要电压和辅助电压的作用下进 行.其中辅助电压又包括放大电路、自动增益控制电路等多种 电路组成.控制整体温度的恒温系统主要依靠恒温电路和恒温槽得以实现,以此实现其高度的稳定性.

1、低噪声震荡电路设计. 低噪声震荡电路设计主要包括两个部分的内容,作为恒温晶振设计中的重点部分——主振电路,它的设计有效与否关系到整个恒温晶振.故对主振电路设计时主要选择皮尔斯的电路设计形式,因为这种电路形式有着良好的稳定性,在低噪声震荡电路设计中被广泛采用.另一部分辅助电路设计则是通过电源的放大电路和滤波电路以及滤波的匹配器三者形成.主振电路设计中低噪声的设计,为降低电压的工作电流则通过设置晶体管来实现,因为晶体管中的噪声分为闪烁噪声白噪声,所以需要根据等效模型电阻小的晶体管选择,电流放大倍数基本上大于80.最后选择的晶体谐振器有载品质因数要较高,能有效提高震荡电路秒级稳定度.主要是采取降噪的措施在辅助电路设计时,如:通过对电源进行二次稳压来减少由于电源波动发生的干扰.

2、精密控温系统设计.控温精度就是指控制温度的精确程度.就是仪表在控温过程中的温度与该点真实温度之间的最大温差就是指控温精度.控温系统通过恒温槽和控温电路组成,建立高精度的控温系统能提高恒温晶振的频率温度的稳定性.为了改善秒级短期的稳定度采用双层恒温槽的设计.通过内外双层的形式连接控温的电路,能够避免外界的干扰.在过程中经过电压的输出放大后自行控制加热电流,使恒温槽所耗费的热量与产生的热量相等,从而恒温晶振能实现最佳的频率温度稳定.双层恒温槽的设计能实现控温电路性能的精密度,通过合理的设计发挥保温性能的优良性特点以及合理的结构形式,另外还能降低环境因素造成的影响.

三、短期稳定度测试方法和结果

根据以上的分析,经过大量的前期测试和调试最终完成方案设计,在对装置进行测试结果和指标检测时,进行测试所使用的方法一般是使用三源循环比对测试方法以此来得到最终的测试结果. 在运用三源循环比对方法的过程中也要求我们保证短期稳定度在测试的过程中保持一致,同时保持一致的测试时间,也因为这种测试方法对于相关设备和测试的环境要求都比较高,因此尽量对测试的时间进行压缩在测试的过程中,来降低由于外界因素对测试结果所造成的误差.

结语: 在文中第一部分主要是通过恒温晶振研制优良短期稳定度的影响因素从而分析得出需要提高晶体管的品质因数在进行晶体晶振谐振器时,同时也需要选择具有降噪效果的晶体管,在最后是选择合适的辅助电路,通过运用具有隔断功能的双层恒温槽,来避免因环境因素而造成的最终测试成果出现偏差.在第二部分则是对低噪声恒温晶振研制进行设计,主要是由低噪声震荡电路设计和精密控温系统设计的两个方面来完成,到最后则是通过相关的测试方法来对最终结果带入相关的公式来进行计算测试,由此来完成对恒温晶振短期稳定度的研制.

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